数显薄膜测厚仪主要用于测定薄膜、薄片等材料的厚度,测量范围宽、测量精度高,具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。
数显薄膜测厚仪的使用注意事项:
1、微分筒移动距离应在刻度套管的刻线范围内,超出刻线不大于0.5mm。
2、数显薄膜测厚仪使用和检定前,请校对零位。
3、数显薄膜测厚仪测微螺杆和量面必须经常清洁,使用后可涂层防锈油。
4、电子数显部件,须防止油、水或其它液体浸入。
5、在长期不使用时,应将测厚仪电池取出。
6、数显薄膜测厚仪是精密量具,应防止撞击,以免影响准确度。
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