涂镀层测厚仪是一种小型便携式仪器,用于测量有色金属基体上的非导电涂层的厚度,如铜、铝、锌等基体上的油漆、塑料、橡胶等涂层,或者是铝基体上的阳极氧化膜厚度等。
涂镀层测厚仪根据测量原理一般有以下五种类型:
1.测厚法:适用导磁材料上的非导磁层厚度测量,导磁材料一般为:钢\铁\银\镍,此种方法测量精度高。
2.测厚法:适用导电金属上的非导电层厚度测量,此种方法较磁性测厚法精度低。
3.超声波测厚法目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的。国外个别厂家有这样的仪器,适用多层途镀层厚度的测量或则是以上要种方法都无法测量的场贪,但一般价格员贵测量精度也不高。
4.电解测厚法:此方法有别于以上三种,不属于无损检测,需要破坏涂镀层.一般精度也不高,测量起来较其他几种麻烦。
5.放射测厚法:此种仪器价格非常昂贵适用于一些特殊场合,国内目前使用最为普遍的是第1\2两种方法。
常规涂镀层测厚仪的原理:
对材料表面保护、装饰形成的覆盖层,如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等,在有关国家和国际标准中称为覆层。
覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环,是产品达到优等质量标准的手段,为使产品国际化,我国出口商品和涉外项目中,对覆层厚度有了明确的要求。
覆层厚度的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。
x射线和β射线法是无接触无损测量,但装置复杂昂贵,测量范围较小。因有放射源,使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。
随着技术的日益进步,特别是近年来引入微机技术后,采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。
测量的分辨率已达0.1微米,精度可达到1%,有了大幅度的提高。它适用范围广,量程宽、操作简便且价廉,是工业和科研使用广泛的测厚仪器。
采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材,检测速度快,能使大量的检测工作经济地进行。