测厚仪研制的关键问题

往返时间的测量有以下三种方法：

（1）测量发射波T与*次底波B1之间的时间;

（2）测量*次底波B1与第二次底波B2之间的时间;

（3）测量其后任意两相邻波之间的时间。

以上三种测量方式的选择可以通过不同的电路来实现，但它们对仪器的性能有很大的影响。如果选择*种测量方法，则因发射脉冲幅度特别大，且种测量方法，由于脉宽窄，能探测薄的材料，此时若用高频探头（10MHz），就能探测更薄的材料，因而拓宽了仪器测量下限。如果选择第三种测量方法，效果和第二种不相上下，但数据采集较困难，且杂波较多。第二和第三种测量方法的测量电路较复杂，成本较高。我们在研制过程中，考虑到量程要求，采用了第二种测量方法。为了方便实现电路，我们在发射超声波的同时设计了一个计数门，由门脉冲控制计数的起始位置。